SIDEN — NFC Implant Utility

REF: FEATURE_MATRIX 参照: 機能マトリクス

Optimized Implant Management

インプラント運用のための最適化

SIDEN provides a complete lifecycle for scanning, organizing, and writing data to compatible LED implants.

SIDENは単なるリーダーではありません。スキャン、整理、そしてLEDインプラントへのデータ書き込みまで、一貫したライフサイクルを提供します。

Read & Inspect

読み取りと検査

Verify UID and internal NDEF structure. Monitor memory utilization before committing new payloads.

UIDと内部のNDEF構造を検証。新しいデータを書き込む前に、現在のメモリ使用状況を確認できます。

Automated Tile Creation

タイルの自動生成

Instantly convert scanned records into reusable dashboard tiles for future one-tap writing.

スキャンしたレコードをそのままダッシュボードのタイルとして保存し、いつでも再利用可能に。

Visual Dashboard

ビジュアル・ダッシュボード

A high-density neon tile layout for managing your most-used implant actions.

高密度なネオンタイル・レイアウトにより、頻繁に使うアクションを直感的に管理。

URI Protocol Support

多様なURIプロトコル

Full support for Web, Phone, SMS, Email, and Custom URI schemes.

Web、電話、SMS、メール、そして高度なカスタムURIスキームまで幅広くサポート。

REF: DATA_INTAKE_FLOW 参照: データインテーク・フロー

Bring data in, then write

データを読み込み、チップへ反映

Direct Write

ダイレクト・エントリ

Commit payloads to memory via highly optimized NFC write sessions designed for glass implants.

ガラス・インプラント向けに最適化されたNFCセッションを通じて、ペイロードをメモリに確実に書き込み。

QR Integration

QR連携

Scan external QR codes to ingest URLs directly into the SIDEN write buffer.

外部のQRコードをスキャンして、URLをそのままSIDENの書き込みバッファへ取り込み。

System-Wide Sharing

システム共有からの入力

Send URLs and text from any app into SIDEN using the native iOS Share Sheet.

iOSの共有シートを使って、他のアプリからURLやテキストをSIDENへ直接送信。

LED Field Detection

LEDフィールド検出

Use your implant's LED as a diagnostic tool to locate the optimal NFC sweet spot.

インプラントのLEDを診断ツールとして使い、iPhoneのNFCスイートスポットを視覚的に特定。

REF: LOW_LEVEL_ENGINE 参照: 低レイヤー・エンジン

Technical Tools

高度なテクニカル診断

Memory Dump

メモリダンプ

Read sector 0 in hex with a readable symbol legend. Export for technical support or reference.

セクタ0を16進数で読み取り、シンボル凡例と共に表示。技術サポートや参照用にエクスポートも可能。

Maintenance

メンテナンス

Init NDEF: Reset Capability Container and TLV.

NDEF初期化: CC（Capability Container）とTLVをリセットし、クリーンな開始点を作成。

Full Wipe: Zero-fill user pages (05–E1).

フルワイプ: ユーザーページ（05–E1）をゼロ埋め。チップを初期状態に戻す際に有効。

Full Wipe clears user pages only. Vendor lock bytes remain persistent. フルワイプはユーザー領域のみを消去します。ベンダーのロックバイトは保持されます。

Typical flow

標準的な運用フロー

01

Scan your implant to read UID, records, and memory status.

インプラントをスキャンして、UID、レコード、メモリの状態を確認。

02

Save a scanned record or create a new tile for the action you want.

スキャンしたデータを保存するか、新しいアクションタイルを作成。

03

Write the tile back to the implant when you are ready.

準備ができたら、作成したタイルをインプラントへ書き戻し。

04

Use Memory Dump, Init NDEF, or Full Wipe when deeper control is required.

深い制御が必要なセットアップやトラブルシューティングには、各種テクニカルツールを活用。

LOG: DIAGNOSTIC_GUIDE ログ: 診断ガイド

Troubleshooting

トラブルシューティング

Alignment: 位置合わせ: Most failures are positional. Hold steady at the phone's top edge. 失敗の多くは位置によるものです。iPhoneの上端付近で、動かさずに静止させてください。

Coupling: 結合状態の確認: Use LED brightness to find the center of the NFC field. LEDの明るさを指標に、NFC磁界の最も強い中心点を探してください。

Interference: 干渉の排除: Remove thick cases or magnetic accessories before scanning. スキャンが不安定な場合は、厚いケースや磁気アクセサリを取り外してください。

Duration: 書き込み時間: Technical tools require sustained connection. Do not move during write. テクニカルツールは通信を維持する必要があります。完了までデバイスを離さないでください。

OBJECT: PRIVACY_MANIFEST オブジェクト: プライバシー・マニフェスト

Privacy Policy

プライバシー基準

Zero data collection or tracking.

データ収集や追跡は一切行いません。

Local-only memory operations.

メモリ操作はすべてローカルで完結します。

No account or cloud dependency.

アカウント登録やクラウド依存はありません。

Intentional-only clipboard use.

クリップボードへのアクセスは明示的な操作時のみ行います。

View Full Privacy Policy → プライバシーポリシーの全文を表示 →

Diagnostic Scan

診断スキャン

Action Tiles

アクションタイル

NDEF Writing

NDEF書き込み

Low-Level Tools

低レイヤー・ツール